Filmetrics® F10-HC | KLA
製品説明 Filmetrics F10-HCはFilmetrics F20をベースにしたシステムで、分光反射スペクトルを解析することにより、素早く膜厚測定結果を得ることができます。
Filmetrics® F54-XY-200およびF54-XY-300自動膜厚マッピングシステ …
高度な分光反射率測定システムと業界をリードするFilmetricsアルゴリズムを使用して、サンプルを簡単にマッピングできます。 コンパクトなシステムで、生産アプリケーションに精密な測定位置決め …
www.filmetrics.com
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Filmetrics® 박막 두께 측정 시스템 | KLA
Filmetrics ® F32 인라인 두께 측정 시스템 최대 4개의 지점을 동시에 측정할 수 있는 기능으로 증착 속도, 박막 두께, 광학 상수 및 균일성을 실시간으로 측정합니다.
屈折率RTC for Thin Film Thickness Measurement | KLA - filmetrics.com
Refractive Index Reference - Filmetrics Composite 正確性において保証しません。 自己責任でご利用下さい。 メインの屈折率データベースに戻る 350 2500 750
Thin Film Thickness Measurement Systems by Filmetrics
More companies count on Filmetrics ® for affordable thin-film thickness measurement systems than on anyone else. Manufacturers of cell phones, eyeglasses, liquid-crystal displays, and hundreds of other …
Metrology Instruments and Equipment | KLA Instruments - filmetrics.com
Filmetrics ® and Zeta™ 光学式表面形状測定システム Filmetrics ® Profilm3D ® および Zeta ™ は光学式の表面形状測定システムです。 白色干渉や ZDot ™ 測定技術を用いて、3D 段差、粗さ、その他の …
Filmetrics®分光反射率シミュレーション | KLA Instruments
Filmetrics ® 分光反射率シミュレーション 下に膜情報を入力すると、薄膜干渉による反射率を計算します。 200nm～2000nmの波長域における反射率を計算できます。 最大20層の膜情報を入力できま …
Semiconductor Software Solutions | KLA - filmetrics.com
Discover KLA’s semiconductor software solutions that provide advanced data analytics, run‑time process control, defect analysis and patterning simulation to help semiconductor fabs improve yield, …
Non Contact Optical Surface Profilers - filmetrics.com
Filmetrics ® は、新たな汎用白色光干渉計を導入しました。 これらの製品は、光学プロファイラーの多様なポートフォリオに統合され、現在はKLA Instrumentsブランドの下で統一されています。